廣東X-射線光電子能譜檢測材料表面成分

表面分析實驗室配備有世界先進水平的表面分析儀器，可為數據存儲、半導體，光電子器件、納米科技等高科技企業提供綜合性的表面分析服務，以滿足其亞微米級分辨率、痕量表面靈敏度、微區樣品加工和薄膜分析的要求。

分析技術手段

俄歇納米探針系統

飛行時間二次離子質譜儀

X-射線光電子能譜儀

納米壓痕儀

掃描電子顯微鏡

超級掃描電子顯微鏡

能量色散譜儀

透射電子顯微鏡

原子力顯微鏡

聚焦離子束

精細研磨設備

服務范圍

材料表征和表面成份分析, 納米級到微米級

界面擴散分析

表面腐蝕分析

表面攙雜改性分析

失效分析

表面形貌分析

薄膜分析

表面污染物分析

鍍層厚度和成份分析

檢測材料表面成分的方法

檢測材料表面成分是材料科學領域的一個重要分支，它涉及到一系列精密的分析技術，用于確定材料表面的元素組成、化學狀態以及分子結構。以下是幾種常用的檢測方法：

X射線能量色散譜法（EDX）

X射線能量色散譜法（EDX）是一種常與電子顯微鏡配合使用的分析方法，它可以測量電子與試樣相互作用所產生的特征X射線的波長與強度，從而對微小區域所含元素進行定性或定量分析。每種元素都有一個特定波長的特征X射線與之相對應，它不隨入射電子的能量而變化，測量電子激發試樣所產生的特征X射線波長的種類，即可確定試樣中所存在元素的種類。元素的含量與該元素產生的特征X射線強度成正比，據此可以測定元素的含量。

電子能譜分析法

電子能譜分析法是采用單色光源或電子束去照射樣品，使樣品中電子受到激發而發射出來，測量這些電子的強度與能量的分布，從而獲得材料信息。電子能譜的采樣深度僅為幾納米，它僅僅是表面成分的反應。

X射線衍射法（XRD）

X射線衍射法（XRD）也可以輔助用來進行物相的定量分析。它的依據是，物相的衍射線強度隨著含量的增加而提高。并不成正比，需要加以修正，采用Jade程序就可以對物相進行定量分析。

質譜法（MS）

質譜法（MS）是將被測物質離子化，按離子的質荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實現分析目的的一種分析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜（簡稱質譜），利用這一性質，可以進行定性分析；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量分析。

分光光度計法

分光光度計法采用一個可以產生多個波長的光源，通過系列分光裝置，從而產生特定波長的光源，光線透過測試的樣品后，部分光線被吸收，計算樣品的吸光值，從而轉化成樣品的濃度，吸光值與樣品的濃度成正比。它包括可見分光光度計和紫外分光光度計。

火花直讀光譜儀

火花直讀光譜儀用電火花的高溫使樣品中各元素從固態直接氣化并被激發而發射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的光譜，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經儀器的控制測量系統將電信號積分并進行模/數轉換，由計算機處理，并打印出各元素的百分含量。

掃描電子顯微鏡（SEM）

掃描電子顯微鏡（SEM）通過電子束掃描樣品表面，獲取高分辨率圖像并進行元素分析。它適用于材料表面特性分析、缺陷分析、微觀結構研究等。

透射電子顯微鏡（TEM）

透射電子顯微鏡（TEM）通過透射電子束對薄樣品進行成像，分析其微觀結構。它適用于納米材料研究、晶體結構分析等。